【英文标准名称】:Semiconductordevices-Mechanicalandclimatictestmethods-Part16:Particleimpactnoisedetection(PIND)
【原文标准名称】:半导体器件.机械和气候试验方法.第16部分:粒子冲击噪声探测(PIND)
【标准号】:IEC60749-16-2003
【标准状态】:现行
【国别】:国际
【发布日期】:2003-01
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际电工委员会(IX-IEC)
【起草单位】:IEC/TC47
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:电子工程;电子设备及元件;半导体器件;集成电路;试验;环境试验;噪声;半导体;噪声测量;气候试验;电气工程;元部件;电学测量
【英文主题词】:Climate;Climatictests;Components;Electricalengineering;Electricalmeasurement;Electronicengineering;Electronicequipmentandcomponents;Environmentaltesting;Impurities;Impurity;Integratedcircuits;Mechanicaltesting;Noise;Noisemeasurements;Particulatematter;Semiconductordevices;Semiconductors;Testing
【摘要】:Definesatestaimingatdetectingthepresenceoflooseparticlesinsideacavitydevicesuchas,forexample,chipsofceramic,piecesofbondingwireorsolderballs(prills).
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:22P.;A4
【正文语种】:英语